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半导体晶圆质量检测系统

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品牌: 半导体晶圆质量检测系统
单价: 面议
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发货期限: 自买家付款之日起 3 天内发货
所在地: 河南 洛阳市
有效期至: 长期有效
最后更新: 2024-07-30 11:35
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公司基本资料信息
详细说明
 NS-3500Solar是一种可靠的半导体晶圆检测系统,通过快速光学扫描模块和信号处理算法实现实时共焦显微图像。在测量和检测微观三维结构,可以为半导体晶片,FPD产品,MEMS设备,玻璃基板,材料表面等提供各种解决方案。  
Features&Benefits(性能及优势):  
高分辨无损伤光学3D测量自动倾斜补偿  
实时共焦成像简单的数据分析模式  
多种光学变焦双Z扫描  
大范围拼接半透明基材的特征检测  
实时CCD明场和共聚焦成像无样品准备  
自动聚焦  
Applicationfield(应用领域):  
NS-3500是测量低维材料的有前途的解决方案。  
可测量微米和亚微米结构的高度,宽度,角度,面积和体积,例如  
-半导体:IC图形,凹凸高度,线圈高度,缺陷检测,CMP工艺  
-FPD产品:触摸屏屏幕检测,ITO图案,LCD柱间距高度  
-MEMS器件:结构三维轮廓,表面粗糙度,MEMS图形  
-玻璃表面:薄膜太阳能电池,太阳能电池纹理,激光图案  
-材料研究:模具表面检测,粗糙度,裂纹分析
http://www.nanoscopesystem.com/SonList-2243785.html 
https://www.chem17.com/st476532/product_35858214.html 
 
原文链接:http://www.xfjs.org/chanpin/14477.html,转载和复制请保留此链接。
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